Bağış 15 Eylül 2024 – 1 Ekim 2024
Bağış toplama hakkında
kitap ara
kitaplar
Bağış:
67.3% ulaştı
Giriş yap
Giriş yap
giriş yapıldıktan sonra kullanıcılar aşağıdakileri kullanılabilir:
kişisel Tavsiyeler
Telegram botu
indirme geçmişi
E-posta'ya veya Kindle'e gönder
koleksiyon yönetimi
favorilere kaydet
Kişisel
Kitap istekleri
Keşfet
Z-Recommend
Kitap seçimi
En popüler
Kategoriler
Bağış
Destekle
Yüklenilenler
Litera Library
Kağıt kitapları bağış yapın
Basılı kitaplar ekleyin
Search paper books
Benim LITERA Point
Anahtar kelime araması
Main
Anahtar kelime araması
search
1
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Техносфера
Д. Синдо
,
Т. Оикава
рис
электронов
энерrии
образца
потерь
электронной
дифракции
изображения
помощью
линзы
пучка
рассеяния
изображение
путем
анализа
образец
electron
интенсивности
fлава
объективной
метод
показано
электронная
метода
схпээ
электроны
излучения
типа
микроскопии
спектроскопия
korдa
спектрометра
области
плоскости
интенсивность
потери
напряжения
пик
спектр
атомов
электрона
электронных
решетки
называется
возбуждения
изображений
пика
электронноrо
rдe
линза
Yıl:
2006
Dil:
russian
Dosya:
DJVU, 6.28 MB
Etiketleriniz:
0
/
0
russian, 2006
2
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии
Вознесенский Э. Ф.
образца
электронов
поверхности
aгентство
cервис
kнига
бибком
оао
ооо
цкб
изображения
изображение
микроскопа
микроскопия
помощью
образец
энергии
электроны
микроскопии
разрешение
волны
излучения
методы
рассеяния
рис
зонда
контраст
метод
линзы
образцов
объектива
контраста
материала
пэм
сзм
материалов
микроскоп
электронной
используют
области
системы
позволяет
рэм
поле
электронная
получения
излучение
структуры
изображений
интенсивности
Dil:
russian
Dosya:
PDF, 11.06 MB
Etiketleriniz:
0
/
0
russian
3
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии
Вознесенский Э.Ф.
,
Шарифуллин Ф.С.
,
Абдуллин И.Ш.
образца
электронов
поверхности
изображения
изображение
микроскопа
микроскопия
помощью
образец
энергии
электроны
микроскопии
разрешение
волны
излучения
методы
рассеяния
рис
зонда
контраст
метод
линзы
образцов
объектива
контраста
материала
пэм
сзм
материалов
микроскоп
электронной
используют
области
системы
позволяет
рэм
поле
электронная
получения
излучение
структуры
изображений
интенсивности
путем
атомов
оптической
микроскопе
плоскости
пучка
зависит
Dil:
russian
Dosya:
PDF, 11.37 MB
Etiketleriniz:
0
/
0
russian
4
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии: учебное пособие
Казанский национальный исследовательский технологический университет
Вознесенский Э.Ф.
,
Шарифуллин Ф.С.
,
Абдуллин И.Ш.
образца
электронов
поверхности
изображения
изображение
микроскопа
микроскопия
помощью
образец
энергии
электроны
микроскопии
разрешение
волны
излучения
методы
рассеяния
рис
зонда
контраст
метод
линзы
образцов
объектива
контраста
материала
пэм
сзм
материалов
микроскоп
электронной
используют
области
системы
позволяет
рэм
поле
электронная
получения
излучение
структуры
изображений
интенсивности
путем
атомов
оптической
микроскопе
плоскости
пучка
зависит
Yıl:
2014
Dil:
russian
Dosya:
PDF, 11.26 MB
Etiketleriniz:
0
/
0
russian, 2014
1
Bu bağlantıyı
takip edin veya Telegram'da @BotFather botunu arayın
2
Ona /newbot gönder
3
Botunuz için bir ad girin
4
Bot için kullanıcı adını belirtin
5
BotFather'dan gelen son mesajı kopyalayın ve buraya yapıştırın
×
×